一、led知識，什么是led 力學(xué)環(huán)境試驗

  在第二次世界大戰(zhàn)期間，美國運往東南亞戰(zhàn)場的電子、電器產(chǎn)品 開箱完好率只有40%,損壞的產(chǎn)品中52%是由于各種氣候

因素造成 的，特別是振動環(huán)境，由于其作用的持久性和后果的嚴重性，已 成 為 影響產(chǎn)品可靠性的一個主要環(huán)境因素。

道路燈具損壞的原因之一是振 動——大 自然的風(fēng)對它產(chǎn)生的振動。道路燈具受到的風(fēng)力較大，振動 產(chǎn)生的交變應(yīng)力超過

產(chǎn)品構(gòu)件所能承受的彈性和塑性極限，進而造成 破壞；振動使接觸部件接觸不良，導(dǎo)致工作不正常、不穩(wěn)定；工藝性 能

受到破壞主要是連接件松動、脫焊等。

力學(xué)環(huán)境試驗包括沖擊試驗、碰撞試驗、跌落和翻倒試驗、正弦 振動試驗、隨機振動試驗、恒定加速度試驗。

沖擊試驗是確定樣品在運輸、搬運及軍用操作中可能經(jīng)受到的重 復(fù)性沖擊作用時的適應(yīng)能力。

碰撞試驗是確定元器件在水中爆炸、撞擊近距離脫靶炮火和空中爆炸等戰(zhàn)場條件下對嚴酷沖擊環(huán)境的適應(yīng)能力。

跌落和翻倒試驗是在搬運裝卸及現(xiàn)場工作條件下所引起的重復(fù)機撞擊對元器件的影響。

正弦振動試驗和隨機振動試驗?zāi)苁乖骷?gòu)件松動，不僅內(nèi)部產(chǎn)生相對位移，造成脫焊、接觸不良、工作性能變差，還能使元器件產(chǎn)生噪音、磨損、物理失效甚至構(gòu)件疲勞。

恒定加速度試驗是驗證元器件在預(yù)期使用環(huán)境下經(jīng)受穩(wěn)態(tài)加速度應(yīng)力時能否正常工作，以及機構(gòu)的承受能力。

有關(guān)LED路燈標準規(guī)定了LED路燈必須進行振動試驗，要求在3個互相垂直方向(X、Y、Z)上振動，每個方向12min,掃頻為每分鐘300～1200次，每個周期為3min,全振幅為2mm,要求燈具不變形，不得出現(xiàn)松扣、脫落、龜裂等現(xiàn)象。

二、化學(xué)環(huán)境試驗

1.鹽霧試驗

在沿海或近海地區(qū)的大氣中都充滿著鹽霧。海水和海浪擊岸時潑散成微小水滴，再經(jīng)氣流輸送過程形成懸浮的氧化物微小液滴，進而組成彌散氣霧系統(tǒng)。由于鹽霧中所含的氧化物(氧化鈉、氯化鈉)具有在很低的相對濕度下吸潮的性能，并且氯離子具有很大腐蝕性，因此鹽霧對沿海的LED產(chǎn)品具有強烈的腐蝕作用

2.混合氣體腐蝕試驗混合氣體試驗箱將電子產(chǎn)品暴露在混合污染氣體中，控制好溫度和濕度環(huán)境，目的是加速失效。20世紀80年代，美國 Battelle  試 驗 和 IBM  公司的研究者開始使用混合氣體加速電子產(chǎn)品腐蝕。20世紀90 年代，專業(yè)的組織，如美國ASTM 、EIA 、IEC開始將此方法標準化并出版相應(yīng)的文件作為規(guī)范，其中有 ASTMB827-97、ASTMB845-97、ASTMB810-0la 、ASTMB825-97 、ASTMB826-97 、ASTMB808-97。 IEC 制定的混合氣體方法如表1所示。

表1 IEC 制定的混合氣體方法(氣體單位：ppb)

 3. 霉菌試驗

霉菌試驗用于評價樣品是否發(fā)生霉菌生長，以及長霉后對樣品的 物理損壞和性能下降程度。試驗菌種如表2所示。   

                                                     表2 霉菌試驗霉種

注；菌種編號為中國科學(xué)院北京微生物研究所保藏的菌種編號。

 三、 綜合環(huán)境試驗

    綜合環(huán)境試驗的目的是在實驗室內(nèi)模擬電工電子產(chǎn)品在運輸、存 儲和使用過程中經(jīng)受到的綜合環(huán)境應(yīng)力及其影響。綜合試驗的項目和 方法有很多，國家標準與IEC 標準有低溫低氣壓、高溫低氣壓、低溫/低氣壓/濕熱、低溫/低氣壓/振動等。